一种高频微波器件测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202122414172.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216117847U | 公开（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申请公布号 | CN216117847U | 申请公布日 | 2022-03-22 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王勇;肖松;李青 | 申请（专利权）人 | 贵阳顺络迅达电子有限公司 |
| 代理机构 | 贵阳中新专利商标事务所 | 代理人 | 胡绪东 |
| 地址 | 550014贵州省贵阳市白云区第二十六大道1656号顺络迅达工业园 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种高频微波器件测试装置，包括PCB印制电路板、基座、SMA射频连接头和铍青铜片，基座为U型结构，PCB印制电路板固定连接在基座中部凹槽内，SMA射频连接头采用多个，固定连接在基座两端，每个SMA射频连接头的引线、接地层与PCB印制电路板的焊盘、接地层电连接，将铍青铜片为弧形结构，一端焊接在PCB印制电路板的焊盘上保持悬空，铍青铜片正对待测高频微波器件的测试管脚。本实用新型通过测试装置连接的测试仪，快速实现微波器件的性能参数测试，提高测试效率和测试精确性，实现微波器件的高频测试，采用悬空弹性的铍青铜片嵌入到微波器件的凹陷焊盘，能够确保电连接的可靠性和稳定性。 |
