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一种IC-CPD电气寿命试验装置

基本信息

申请号 CN202121397080.0 申请日 -
公开（公告）号 CN215005767U 公开（公告）日 2021-12-03
申请公布号 CN215005767U 申请公布日 2021-12-03
分类号 G01R31/327（2006.01）I;G01R19/165（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 毛家稳;江薇;杨世江;杜文;安平 申请（专利权）人 上海电科智能装备科技有限公司
代理机构 上海璀汇知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 王文颖
地址 200063上海市普陀区武宁路509号15楼、16楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种IC‑CPD电气寿命试验装置，其特征在于：包括测控系统、与试品IC‑CPD的进线端连接的供电系统、接在试品IC‑CPD导引线和PE出线端之间的导引单元，以及与试品IC‑CPD的出线端并联的涌入电流负载、预充电流负载和额定电流调节负载。本实用新型提供的IC‑CPD电气寿命试验装置用于IC‑CPD电气寿命试验，通过对涌入电流负载、预充电流负载、额定电流调节负载的调节，可产生符合标准要求的试验电流，满足试验标准要求，无需在现有传统电气寿命装置上临时接线，从而提高了试验效率及试验可靠性，且改善了试验场地的美观与安全。