基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜
基本信息
| 申请号 | CN202110738522.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113484638A | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN113484638A | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李学鹏;冷明星;王丽 | 申请（专利权）人 | 深圳市豪恩声学股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 黄广龙 |
| 地址 | 518000广东省深圳市坪山区规划四路6号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜。本申请的基于无线耳机充电盒的老化测试方法，针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法，并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测，量化了测试过程中的测试时间、充放电容量等参数，提高了测试的准确性，能够有效的拦截不良品，提高了产品进入市场后的可靠性。 |
