一种集成电路测试仪
基本信息
| 申请号 | CN202010450830.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111596200A | 公开（公告）日 | 2020-08-28 |
| 申请公布号 | CN111596200A | 申请公布日 | 2020-08-28 |
| 分类号 | G01R31/317(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 徐龙华 | 申请（专利权）人 | 上海岱矽集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 上海思牛达专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 雍常明 |
| 地址 | 226299 江苏省南通市启东市经济开发区林洋路500号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种集成电路测试仪，该测试仪包括主处理器、主控模块、被测试芯片接口，还包括供电单元,时延单元，主控模块经过时延单元把产生的被测试芯片所需要的数据信号提供给被测试芯片，或者主控模块通过时延单元读取被测试芯片提供的数据信号，时延单元同地址信号配合控制读写被测试芯片数据信号的速度。本发明的集成电路测试仪能便捷地进行实现速度实时变动测试。 |
