一种集成电路测试仪
基本信息
| 申请号 | CN202010450829.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111596202A | 公开（公告）日 | 2020-08-28 |
| 申请公布号 | CN111596202A | 申请公布日 | 2020-08-28 |
| 分类号 | G01R31/3183(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 徐龙华 | 申请（专利权）人 | 上海岱矽集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 上海思牛达专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 雍常明 |
| 地址 | 226299 江苏省南通市启东市经济开发区林洋路500号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种集成电路测试仪，包括主处理器、主控模块、被测试芯片接口，还包括供电单元，供电单元负责提供被测试芯片的电源供给，供电单元电压由主处理器自由控制，可以实现在整个测试流程中任意时间点动态电源实时变动的测试。本发明的集成电路测试仪能便捷地对被测试芯片在定义好的电源电压波动范围测试。 |
