光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质专利查询专利号|摘要-满商公司网

光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质

基本信息

申请号	CN202110335135.3	申请日	-
公开（公告）号	CN113091795A	公开（公告）日	2021-07-09
申请公布号	CN113091795A	申请公布日	2021-07-09
分类号	G01D18/00（2006.01）I;G01D5/26（2006.01）I;G01D5/353（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	王珲;王炯明;孙政国	申请（专利权）人	上海橙科微电子科技有限公司
代理机构	上海段和段律师事务所	代理人	李佳俊;郭国中
地址	200120上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
法律状态	-

摘要

本发明提供了一种步骤S1：配置周期性激励源发送周期性激励信号A；步骤S2：在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+NA，并进行多个周期的平均，过滤噪声；步骤S3：将采集到的输出信号A+NA作为输入接到待测器件或者信道H；步骤S4：在待测器件或者信道H的输出点用采样设备BB采集输出信号B+NB，并进行多个周期的平均值计算，过滤噪声；步骤S5：将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C，计算待测器件或信道H的传递函数。本发明通过对待测器件或通道的输入/输出采样信号的相关计算，解决了光信号到电信号或电信号到光信号或光信号到光信号之间器件或者信道传输函数无法方便实际测量的问题。