碳化硅UMOSFET器件
基本信息
申请号 | CN201920068385.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN209447806U | 公开(公告)日 | 2019-09-27 |
申请公布号 | CN209447806U | 申请公布日 | 2019-09-27 |
分类号 | H01L29/78(2006.01)I; H01L29/812(2006.01)I; H01L29/06(2006.01)I; H01L21/336(2006.01)I; H01L29/423(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 卓廷厚; 李钊君; 刘延聪 | 申请(专利权)人 | 厦门芯光润泽科技有限公司 |
代理机构 | 厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 厦门芯光润泽科技有限公司 |
地址 | 361000 福建省厦门市火炬高新区火炬园火炬路56-58号火炬广场南楼203-76 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种碳化硅UMOSFET器件。所述器件自下而上包括漏电极层、N+碳化硅衬底和N‑外延层;N‑外延层具有第一P‑阱区、第一N+注入区、第二P‑阱区、第二N+注入区、第一凹槽、第二凹槽和第三凹槽;第一栅结构和第二栅结构之间留有第三凹槽的第一底面;第三凹槽底部下方具有多个P+注入区,相邻P+注入区之间具有间隔;第一金属、第二金属和第三金属,第三金属覆盖第一金属和第二金属,同时第三金属填充剩余的第一凹槽、剩余的第二凹槽和剩余的第三凹槽,所述第一金属与间隔的上表面形成肖特基接触。所述器件提升了续流能力,可靠性提高,漏电流减小,开关能力提升。 |
