一种条纹反射三维测量方法、系统及存储介质
基本信息
申请号 | CN202111482419.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114166150B | 公开(公告)日 | 2022-06-21 |
申请公布号 | CN114166150B | 申请公布日 | 2022-06-21 |
分类号 | G01B11/25 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 吴伟锋;王国安;韩世超;王明毅;王前程 | 申请(专利权)人 | 海伯森技术(深圳)有限公司 |
代理机构 | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭燕;彭家恩 |
地址 | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区航城大道华丰国际机器人产业园E栋一层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种条纹反射三维测量方法、系统及存储介质,根据格雷码编码得到多幅横向和纵向的二值条纹显示图像;分别获取多幅二值条纹反射图像;分别提取多幅横向和纵向的二值条纹反射图像的第二边缘线;分别根据多幅横向和纵向的二值条纹反射图像进行格雷码解码,获得第二边缘线的序号;获取待测点的图像坐标以及第二格雷码坐标,获取对应第二格雷码坐标的显示屏坐标;根据显示屏坐标以及图像坐标,获取待测点的梯度数据;重建第一表面的三维形貌数据。可见使用二值条纹对显示图像坐标进行编码,原理上就免疫了连续相位调制的相机和显示器Gamma效应引起的误差,二值条纹的状态只有0和1没有中间态,提高了抗噪能力,实现三维重建质量的提高。 |
