反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质专利查询专利号|摘要-满商公司网

反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质

基本信息

申请号	CN202111300606.3	申请日	-
公开（公告）号	CN114001668B	公开（公告）日	2022-07-19
申请公布号	CN114001668B	申请公布日	2022-07-19
分类号	G01B11/24（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	吴伟锋;王国安;王明毅;陈晓铭;彭粤龙	申请（专利权）人	海伯森技术（深圳）有限公司
代理机构	深圳鼎合诚知识产权代理有限公司	代理人	-
地址	518000广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区航城大道华丰国际机器人产业园E栋一层
法律状态	-

摘要

一种反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质。通过获取第一相机拍摄的待测物体的第一图像和第二相机拍摄的待测物体的第二图像，第一图像和第二图像中包含待测物体表面反射的条纹图像；根据第一图像和第二图像，得到第一物点的高度值和梯度值，第一物点为第一相机和第二相机的视野范围的重叠区域中的物点；确定第二物点的第一高度值的初始值为第一物点的高度值，第二物点在第一物点的相邻区域中，第二物点在第一相机和第二相机的视野范围的非重叠区域；基于第二物点的第一高度值的初始值和预设步长进行迭代处理，确定第二物点的梯度值；根据所有物点的梯度值，对待测物体的表面进行重建，得到待测物体的形貌数据。从而扩大了测量范围。