一种调试芯片的方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201811620324.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109407655B | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN109407655B | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G05B23/02(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 万红星 | 申请（专利权）人 | 重庆中星微人工智能芯片技术有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 401120 重庆市北碚区云汉大道117号附338号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提供了一种调试芯片的方法及装置，用于解决芯片内部模块在线功能调试和检测的问题。该方法包括：接收JTAG控制器发送的第一控制指令，第一控制指令包括接口选择信息；根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输芯片的测试结果信号；接收总线传输的测试结果信号；发送测试结果信号至JTAG控制器，以供调试使用。通过利用JTAG控制器进行芯片内部模块在线功能调试和检测，避免了对芯片定义冗余的调试接口，使对芯片内部模块的功能的在线调试和检测更为便捷，提高测试效率。 |
