一种分类稳定的芯片封装测试用分类结构
基本信息
| 申请号 | CN202122735932.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216064356U | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN216064356U | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | B07C5/34（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 韩基东 | 申请（专利权）人 | 江苏恩微电子有限公司 |
| 代理机构 | 苏州大智知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵枫 |
| 地址 | 224000江苏省盐城市盐南高新区数字智能产业基地二号楼1、2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及芯片封装测试领域的一种分类稳定的芯片封装测试用分类结构，包括传送带，所述传送带一侧表面固定安装有支撑柱腿，所述支撑柱腿内侧表面固定安装有加固架，所述传送带一侧固定安装有分类测试结构，所述分类测试结构下表面固定安装有支柱，所述分类测试结构一侧表面开设有一号出口，所述分类测试结构后表面开设有二号出口。通过设置的伸缩架，可以在滑动安装架移动时进行伸缩，同时还能够带动推动板块进行移动，从而可以使推动板块将检测出来的残次品通过一号出口传送出，通过设置的支撑板可以对传动板进行支撑，从而能够在传动板移动的时候带动滑动安装架进行移动，传动齿能够和传动齿轮相互作用，从而可以带动传动板进行移动。 |
