一种硅材料的钝化检测系统
基本信息
| 申请号 | CN202220350257.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216870410U | 公开（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申请公布号 | CN216870410U | 申请公布日 | 2022-07-01 |
| 分类号 | G01N21/95（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I;B05B13/02（2006.01）I;B05B15/68（2018.01）I;B05B12/32（2018.01）I;B05B16/20（2018.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈剑辉;高青;张旭宁;李文恒;陈静伟;李锋;杨学良;郭建新;许颖;宋登元 | 申请（专利权）人 | 河北大学 |
| 代理机构 | 石家庄领皓专利代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 071000河北省保定市五四东路180号河北大学本部北院 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及硅材料检测技术领域，提出了一种硅材料的钝化检测系统，包括依次连接的输送装置、钝化装置和检测装置，钝化装置包括机箱、第一输送件、喷涂机和风干装置，第一输送件设置在机箱内，喷涂机设置在机箱内，位于第一输送件上方，喷涂机与原料罐连通，风干装置设置在机箱内，硅材料依次经过喷涂机和风干装置，喷涂机包括调节装置和喷涂装置，喷涂装置设置在调节装置上，位于第一输送件上方，喷涂装置与原料罐连接。通过上述技术方案，解决了现有技术中消除硅材料表面缺陷过程复杂、钝化效果差、装备昂贵、成本高昂等问题。 |
