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一种IC时序验证方法及装置

基本信息

申请号 CN202110583310.0 申请日 -
公开（公告）号 CN113311314A 公开（公告）日 2021-08-27
申请公布号 CN113311314A 申请公布日 2021-08-27
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 何贤赚;付超;周杨凡;王海宁;李婷;刘晓露 申请（专利权）人 杭州万高科技股份有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 侯珊
地址 310053浙江省杭州市滨江区六和路368号一幢（北）四楼A4038室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种IC时序验证方法及装置，用户可以根据待测IC的不同类型及用户需求向处理装置发送不同的波形生成指令，使处理装置生成与波形生成指令对应的测试时序波形，然后判断待测IC基于测试时序波形生成的待测时序波形与期望时序波形是否相同，以判断待测IC是否满足用户的设计需求。由于处理装置生成测试时序波形时不受电路结构的限制，可以生成任意类型的测试时序波形，以满足不同的检验需求，在研发设计师研发出新的待测IC时，可以直接生成与待测IC对应的测试时序波形以对待测IC进行测试，不需要开发一个配套的与待测IC对应的检测装置，提高了对待测IC进行验证的效率。