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一种基于闭环方式的双激光共轭聚焦基因芯片扫描仪

基本信息

申请号 CN03141942.9 申请日 -
公开（公告）号 CN1580745A 公开（公告）日 2005-02-16
申请公布号 CN1580745A 申请公布日 2005-02-16
分类号 G01N21/64 分类 测量；测试;
发明人 冯哲民;邵晖;王铁铭 申请（专利权）人 上海爱普特仪器有限公司
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 李湘
地址 200437上海市曲阳路789号茶恬园大楼102－110室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种双激光共轭聚焦基因芯片扫描仪，包含激光光源、分色滤光片、检测受激荧光信号的荧光信号检测单元和承载基因芯片的平台，其中，分色滤光片将来自激光光源的大部分激光束反射至基因芯片，并且使受激荧光信号透射后射向荧光信号检测单元，其进一步包含：激光强度检测单元，其位于分色滤光片之后以测量透射过分色滤光片的激光束强度；以及荧光信号强度修正单元，其与激光强度检测单元和荧光信号检测单元相连，用于根据激光强度检测单元测得的激光束强度变化值来修正荧光信号强度。与现有技术的双激光共轭聚焦基因芯片扫描仪相比，本发明的基因芯片扫描仪引入光学闭环系统来修正测得的荧光信号强度，因此具有出色的稳定性和可靠性。