一种基于白光干涉的背钻孔深度测量装置和方法

基本信息

申请号 CN201910563589.9 申请日 -
公开(公告)号 CN110260816A 公开(公告)日 2019-09-20
申请公布号 CN110260816A 申请公布日 2019-09-20
分类号 G01B11/24(2006.01)I; G01B11/22(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 姜广文; 朱志武; 曹结新 申请(专利权)人 湖南省鹰眼在线电子科技有限公司
代理机构 北京鱼爪知识产权代理有限公司 代理人 廖斌
地址 410005 湖南省长沙市开福区新河街道晴岚路68号北辰凤凰天阶苑B1E1区1栋32025号房
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种基于白光干涉的背钻孔深度测量装置和方法,包括宽谱段光源,光源整形镜片组,分光器,第一成像镜片组,光强衰减装置,第二成像镜片组,参考面,镜片组,相机,位移台。宽谱段光源发出的光经过镜片组整形后,经过分光器分成两束,一束经由光强衰减装置、第一成像镜片组和参考面的反射,返回分光器,另一束通过第二成像镜片组照射到样品表面,经由样品表面反射,返回分光器;返回分光器的两束光再经过汇聚镜片组由相机接收。本发明采用白光干涉原理实现背钻孔深度测量。在传统白光干涉基础上,加入分光调节单元,增强PCB的背钻孔反射的光信号,从而达到提高测量精度的效果。