一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法及装置
基本信息
申请号 | CN202110363569.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113188372A | 公开(公告)日 | 2021-07-30 |
申请公布号 | CN113188372A | 申请公布日 | 2021-07-30 |
分类号 | F41G3/32;G01M11/00 | 分类 | 武器; |
发明人 | 王曲直;廖茂益;罗维彪;李平安 | 申请(专利权)人 | 绵阳慧视光电技术有限责任公司 |
代理机构 | 成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | 李斌;李辉 |
地址 | 621000 四川省绵阳市绵阳科创区创新中心2号楼314室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法,包括以下步骤:S1、启动光学导引头,并对光学导引头根据预设角度进行调整;S2、对测试系统上电,得到测试系统的初始相位差φ0;S3、通过测试控制器控制靶标停止运动,保持测试系统处于上电状态,得到处理延时的时间tde l ay。本发明还提供了一种用于测量光学导引头处理延时时间的装置,装置包括靶标、光学导引头、测试控制器、电机驱动、步进电机和PC端分析装置。 |
