芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011390228.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112506724B | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN112506724B | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G06F11/22（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 张冉;王健;欧纲;孔晓琳;邓海军;何萌;李安平 | 申请（专利权）人 | 深圳米飞泰克科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵倩 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请适用于半导体集成电路测试技术领域，提供了一种芯片测试方法，包括：识别待测芯片的类型；根据待测芯片的类型，确定用于测试待测芯片的测试程序；根据测试程序，测试待测芯片。通过本申请提供的芯片测试方法，测试仪可以根据待测芯片上的二维码标识或者条形码标识，识别每一个待测芯片的类型，并且根据待测芯片的具体类型，下载并调用对应类型芯片的测试程序，对待测芯片进行测试，取代了传统测试仪进行多类型芯片测试时，需要人力输入不同类型芯片的测试程序的方式，简化了测试芯片流程，提高了测试芯片的效率。 |
