一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110533296.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113406473B | 公开（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申请公布号 | CN113406473B | 申请公布日 | 2022-03-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 付友良;王健;邓海军;何萌;欧纲;王英广;孔晓琳;李闯;李安平 | 申请（专利权）人 | 深圳米飞泰克科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘永康 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请适用于集成电路测试领域，提供了一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中获取控制指令，根据上述控制指令以第一预设温度和第二预设温度分别获取芯片的第一最大基准电压和第一最小基准电压；根据上述第一最大基准电压和上述第一最小基准电压计算上述芯片的温度校准值，其中，上述温度校准值用于对上述芯片基准电压的温度特性进行校准；将上述温度校准值写入上述芯片的存储器中，对上述芯片进行测试，从而提高芯片的测试结果的准确性。 |
