RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备
基本信息
| 申请号 | CN202210034777.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114047385A | 公开（公告）日 | 2022-02-15 |
| 申请公布号 | CN114047385A | 申请公布日 | 2022-02-15 |
| 分类号 | G01R27/02（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I;G06K17/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李建强;赵军伟;王文赫;杜鹃;林杰;刘俊杰;皮建 | 申请（专利权）人 | 北京智芯半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵静 |
| 地址 | 102200北京市昌平区南邵镇南中路电网产业大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备，其中方法包括：获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益；依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度，其中，多个芯片包括待测芯片和至少一个与待测芯片同型号的芯片；根据标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度；根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度，获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。由此，能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度，从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。 |
