一种微控制器SOC内建IO映射测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201610525950.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105929818B | 公开（公告）日 | 2020-03-06 |
| 申请公布号 | CN105929818B | 申请公布日 | 2020-03-06 |
| 分类号 | G05B23/02 | 分类 | 控制；调节; |
| 发明人 | 万上宏;叶媲舟;黎冰;涂柏生 | 申请（专利权）人 | 深圳市博巨兴微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人 | 深圳市博巨兴实业发展有限公司;深圳市博巨兴微电子科技有限公司 |
| 地址 | 518051 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼732 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种微控制器SOC内建IO映射测试装置，包括外部测试逻辑模块、微控制器内核、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、内部测试控制模块和IO控制模块。本发明的有益效果是：1、本方案可以高效地对微控制器SOC内部的集成IP进行测试。在微控制器SOC出现失效的时候，也可以在测试模式下对内部集成的IP进行失效分析。2、本方案能够改善微控制器SOC的测试效率，只需要增加极少的资源来实现内建IO映射测试逻辑，几乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。 |
