单光子探测模块性能指标标定装置及校准方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

单光子探测模块性能指标标定装置及校准方法

基本信息

申请号	CN202110894279.2	申请日	-
公开（公告）号	CN113340420A	公开（公告）日	2021-09-03
申请公布号	CN113340420A	申请公布日	2021-09-03
分类号	G01J1/44（2006.01）I;H04B10/073（2013.01）I	分类	测量；测试;
发明人	陈柳平;王林松;万相奎;王其兵	申请（专利权）人	国开启科量子技术（北京）有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	100193北京市海淀区西北旺东路10号院东区5号楼一层108
法律状态	-

摘要

本发明公开的单光子探测模块性能指标标定装置及校准方法，涉及量子通信设备测试领域，包括光源、光分路器、多个单光子探测器、时间采集器和控制器，其中：光源用于制备并发射脉冲光信号，光分路器用于按能量将脉冲光信号等分为多束光信号并分别将各束光信号传输至对应连接的单光子探测器，多个单光子探测器用于分别感应对应各条光通道中的光信号产生的雪崩信号并根据雪崩信号，统计光信号中光子的数量，时间采集器用于分别统计各个单光子探测器产生的雪崩信号的到达时间并根据达到时间，生成雪崩信号的时域分布，控制器用于根据多个单光子探测器统计的光子的数量及时间采集器生成的雪崩信号的时域分布，计算单光子探测模块的性能指标，节省了人工成本、提高了效率。