叠层厚度测量装置
基本信息
| 申请号 | CN201420194603.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN203824527U | 公开（公告）日 | 2014-09-10 |
| 申请公布号 | CN203824527U | 申请公布日 | 2014-09-10 |
| 分类号 | G01B11/06(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 窦琴;韩欢庆;陈文智;张淑兰;张志英;刘囡楠;张涛 | 申请（专利权）人 | 安泰非晶科技有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京五洲洋和知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘春成;温泉 |
| 地址 | 100081 北京市海淀区学院南路76号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种叠层厚度测量装置，应用于冶金行业中金属叠层的叠片系数测量设备领域。所述叠层厚度测量装置包括：具有支架的测量台，所述支架位于所述测量台的台面上；夹紧机构；具有上压面和下压面的压力传感器；位于所述测量台台面上的第一驱动机构，与所述夹紧机构连接；固定于所述支架上的第二驱动机构，与所述上压面连接；以及固定于所述支架上的测距仪，位于所述上压面上方，用于测量叠层式样的叠层厚度。本实用新型通过上述技术方案提高了测量效率，降低了劳动强度，同时提高了测量结果的准确度。 |
