一种DCS自动测试方法、装置和系统
基本信息
| 申请号 | CN202011549102.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114742089A | 公开（公告）日 | 2022-07-12 |
| 申请公布号 | CN114742089A | 申请公布日 | 2022-07-12 |
| 分类号 | G06K9/00（2022.01）I;G06F11/36（2006.01）I;G05B23/02（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 时建纲;张亚栋;高玉斌;齐敏;包凯;郭德新;夏新博;冀建伟;杨万春 | 申请（专利权）人 | 北京广利核系统工程有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 100094北京市海淀区永丰路5号院5号楼1层101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种DCS自动测试方法、装置和系统，包括：获取响应时间测试序列配置数组；在功能测试同时获取响应时间测试同步触发信号；判断当前测试周期内的示波器参数是否与前一周期一致，如果不一致，由调取与触发信号相匹配的测试序列配置，基于测试序列配置对示波器进行预置，进行继电器阵列配置；若一致，则直接配置继电器阵列；若在预定时间内未采集到与本测试周期内第一次相同的同步触发信号时，则提示异常后退出本次测试周期，否则继续采集同步触发信号；当接收到与第一次采集相同的同步触发信号后，启动示波器进行数据采集；基于示波器采集到的响应数据，计算触发信号对应的测试通道的响应时间，提高了DCS系统的测试效率。 |
