一种相变温度测试系统
基本信息
申请号 | CN200910273102.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN101726506B | 公开(公告)日 | 2016-03-02 |
申请公布号 | CN101726506B | 申请公布日 | 2016-03-02 |
分类号 | G01N25/02(2006.01)I;G01N25/12(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 缪向水;童浩;程晓敏 | 申请(专利权)人 | 武汉玖恒博文财富管理有限公司 |
代理机构 | 华中科技大学专利中心 | 代理人 | 曹葆青 |
地址 | 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种相变温度测试系统,其结构为:加热炉的盖板上开有通光孔,加热炉内设有炉腔,样品架位于炉腔内,并位于通光孔的正下方,在通光孔的上方放置有激光器和光电探测器,光电探测器位于待测样品对激光束的反射光路上。本发明可以增设信号放大采集电路、温度控制传感电路和数据处理器。通过该系统测试灵敏度较高,能测定膜厚低至1nm的薄膜的相变温度;且可直接测量薄膜样品的相变温度,对样品无损伤;通过不同升温速率下的变温测量还可获得更多的材料热力学参数。操作简单,成本低廉,测试可靠度较高。 |
