芯片SLT测试的软件实现方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202110708174.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113254296B | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113254296B | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G06F11/263（2006.01）I;G06F11/273（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 赵朋飞;陈庆;韩向阳 | 申请（专利权）人 | 上海励驰半导体有限公司 |
| 代理机构 | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 | 代理人 | 曹婷 |
| 地址 | 200000上海市浦东新区上海自由贸易试验区祥科路111号2号楼217室,晨晖路88号2幢3层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片SLT测试的软件实现方法及系统，涉及芯片测试技术领域，解决了SLT测试软件的移植率不高的技术问题，其技术方案要点是将SLT测试软件作为组件运行在待测SOC芯片的操作系统之上，与系统软件解耦，方便移植。在SOC开发板的配合下，实现在芯片真实运行的软硬件环境下进行SLT测试。本发明的SLT测试软件的测试用例的实现是独立开发的，测试用例的软件实现人员不用修改SLT测试软件的实现，单独实现测试用例即可，保证软件的稳定性。并且单个测试用例内部的bug不会导致整个SLT的测试卡死，保证软件的健壮性。 |
