一种光栅膜参数的标定方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN201710742848.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107525655B | 公开（公告）日 | 2020-03-03 |
| 申请公布号 | CN107525655B | 申请公布日 | 2020-03-03 |
| 分类号 | G01M11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 夏正国;于炀;谢春华 | 申请（专利权）人 | 上海玮舟微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区碧波路690号5号楼202室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种光栅膜参数的标定方法及系统，光栅膜包括周期性排列的光栅，定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期，第一方向垂直于光栅的延伸方向，光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角，第一方向与第二方向交叉，标定方法包括：提供一显示面板，显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值；将光栅膜与显示面板对位贴合，光栅与像素阵列形成条纹；调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，标定光栅膜的周期；和/或，调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，标定光栅膜的倾斜角。本发明提供一种光栅膜参数的标定方法及系统，以实现对光栅膜的参数进行准确的标定。 |
