一种线圈板层偏测试工艺
基本信息
申请号 | CN202011501361.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112888194A | 公开(公告)日 | 2021-06-01 |
申请公布号 | CN112888194A | 申请公布日 | 2021-06-01 |
分类号 | H05K3/46(2006.01)I;H05K1/02(2006.01)I | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
发明人 | 黄先广;李飞;张海 | 申请(专利权)人 | 泰和电路科技(惠州)有限公司 |
代理机构 | 深圳市兴科达知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张德兴 |
地址 | 516000广东省惠州市仲恺高新技术开发区平南工业区48号小区 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及线圈板测试技术领域,且公开了一种线圈板层偏测试工艺,包括以下步骤:S1:设计对准度模块的内层图形,将该图形加入线路板的内层图形的PCS中,进行内层线路制作,然后将多张内层线路板进行压合;S2:在钻孔工序,将压合后的板的对准度模块根据要求钻5个通孔;S3:对钻孔后的线路板进行沉铜、电镀处理;S4设计对准度模块的外层图形,将该图形设计加入线路板的外层图形中,对线路板进行外层线路制作;S5对线路板进行防焊、文字、沉金等处理;S6:进行电测试;S7:在成型工序将对准度模块锣掉。本发明中,每PCS有单独网络不与正常线路联通,通过电测试将层偏不良PCS检验出来,报废,然后校验模块在成型工序锣掉,对产品本身没有影响。 |
