测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202020533765.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211977969U | 公开（公告）日 | 2020-11-20 |
| 申请公布号 | CN211977969U | 申请公布日 | 2020-11-20 |
| 分类号 | G01D18/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 黄菊莲;牟云飞;吴海平;张少波;闫欣;刘伟锋 | 申请（专利权）人 | 西安西谷微电子有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京东灵通专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 西安西谷微电子有限责任公司 |
| 地址 | 710000陕西省西安市高新区锦业路69号创业园A区12号现代企业中心东区2-10402 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种测试装置，涉及电器件参数的测试技术领域，为解决现有技术中，测试装置存在的设备及人力成本高的技术问题，本实用新型的技术方案如下：包括测试控制器、提示装置、ATE测试机及测试开发板；所述测试控制器的输出端与提示装置的输入端连接，输入/输出端与ATE测试机的输入端连接，所述ATE测试机的输入端与测试开发板的输出端连接，所述测试开发板的测试端与待测器件连接，并向所述待测器件发送测试信号，所述ATE测试机通过测试开发板再接收待测器件的反馈信号，并将反馈信号发送至测试控制器，所述测试控制器根据预设信号值判断反馈信号是否符合，并驱动所述提示装置发出当前测试结果。 |
