一种MOX芯块均匀性检的检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201911343031.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113030126A | 公开（公告）日 | 2021-06-25 |
| 申请公布号 | CN113030126A | 申请公布日 | 2021-06-25 |
| 分类号 | G01N23/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 彭传洋;袁毓文;屠振华;郭亮;李强 | 申请（专利权）人 | 中核四0四有限公司 |
| 代理机构 | 核工业专利中心 | 代理人 | 任超 |
| 地址 | 732850 甘肃省兰州市508信箱1分箱 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 提供一种MOX芯块均匀性的检测方法，利用MOX芯块放在IP板上进行辐照成像，通过图像和像素亮度值表征MOX芯块的均匀性,为MOX芯块的成功制备以及入堆安全运行提供保障。此方法操作便捷，可适用于MOX芯块的大批量检测；相较于传统的照相法，成像更为清晰，并且可以利用图像的像素亮度来辅助判定MOX芯块的均匀性，对MOX芯块的微观均匀性的表征具有很重要的意义。 |
