基于贝叶斯理论的系统测试及图谱分析方法
基本信息
申请号 | CN201910683280.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110600120A | 公开(公告)日 | 2019-12-20 |
申请公布号 | CN110600120A | 申请公布日 | 2019-12-20 |
分类号 | G16H50/20;G06N7/00;G06N5/04 | 分类 | 物理 |
发明人 | 陈云林;孙力斌;郑晶 | 申请(专利权)人 | 浙江迪安证鉴检测技术有限公司 |
代理机构 | 北京中企鸿阳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 浙江迪安证鉴检测技术有限公司;北京迪安法润鉴定技术有限公司;浙江迪安鉴定科学研究院;内蒙古迪安鉴定科学研究院;陈云林 |
地址 | 310013 浙江省杭州市西湖区三墩镇石祥西路859号紫金启真大厦2号楼701-3室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提出了一种基于贝叶斯理论的系统测试及图谱分析方法,包括:采用多道仪测试,包括如下步骤:步骤S1,根据本次评估事件,对评估对象进行基本测试,如果基本测试通过,则生成测试结论,否则执行步骤S2;步骤S2,对所述评估对象进行精细测试,无论精细测试是否通过,均生成测试结论;其中,所述基本测设和精细测试均采用一个或多个的准绳问题测试方法和隐蔽信息测试方法。 |
