量子电路的故障仿真方法、系统、存储介质和电子设备
基本信息
| 申请号 | CN202210352824.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114429096B | 公开（公告）日 | 2022-06-24 |
| 申请公布号 | CN114429096B | 申请公布日 | 2022-06-24 |
| 分类号 | G06F30/33;G06N10/20 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 官极;黄鸣宇;应明生 | 申请（专利权）人 | 中国科学院软件研究所 |
| 代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈熙 |
| 地址 | 100086 北京市海淀区知春路甲48号3号楼4层1单元5C | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及量子电路故障仿真技术领域，尤其涉及一种量子电路的故障仿真方法、系统、存储介质和电子设备，方法包括：获取待测试故障量子电路所对应的超算子，并获取超算子中的每个逻辑超算子所分别对应的Kraus矩阵集合；遍历选取每个Kraus矩阵集合中的每个Kraus矩阵，得到多个张量网络收缩，然后计算待测试故障量子电路中的故障的故障影响率。通过将待测试故障量子电路表示为多个Kraus矩阵集合，能够编码到在一组张量网络中，张量网络的收缩计算效率高，能够快速计算张量网络收缩，从而能够在很短的时间内完成故障仿真，且能够模拟大小超过5000个量子比特的故障量子电路，可满足NISQ时代的应用。 |
