一种针对高采样率的被动磁信号优化提取和检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202110944271.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113655529A | 公开（公告）日 | 2021-11-16 |
| 申请公布号 | CN113655529A | 申请公布日 | 2021-11-16 |
| 分类号 | G01V3/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王毅;李荣浩;王琦;颜坤 | 申请（专利权）人 | 南京电子设备研究所 |
| 代理机构 | 北京慕达星云知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 符继超 |
| 地址 | 211100江苏省南京市江宁区将军大道29号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种针对高采样率的被动磁信号优化提取和检测方法，包括：S1：输入磁信号探测器采集的磁信号；S2：利用消除趋势函数抑制磁信号中的背景磁场，得到抑制背景磁场后的磁信号；S3：利用数字滤波器抑制抑制背景磁场后的磁信号中的白噪声，得到抑制白噪声后的磁信号；S4：根据磁信号探测器类型对抑制白噪声后的磁信号进行分帧判断，得到候选样本；S5：利用白化滤波器抑制候选样本中的色噪声，得到磁扰动信号；S6：利用标准正交基函数对磁扰动信号进行检测，输出检测结果。与现有技术相比较，采用本发明所设计的优化提取技术后，目标识别距离和识别精度都得到了有效的提高，结果具有较高的可靠性和有效性。 |
