芯片性能测试治具
基本信息
| 申请号 | CN202111438462.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114355153A | 公开（公告）日 | 2022-04-15 |
| 申请公布号 | CN114355153A | 申请公布日 | 2022-04-15 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 林江 | 申请（专利权）人 | 深圳宝新创科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 钟永翠 |
| 地址 | 518000广东省深圳市光明区光明街道白花社区第二工业区11号汇得宝工业园6号二层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种芯片性能测试治具，包括电控板、信号输入端、信号输出端、多个测试端。其中，电控板上设置有信号测试线路，包括第一并联安装位、第二并联安装位、多个选通安装位、串联安装位、第一信号线、多条第二信号线和第三信号线。第一并联安装位、第二并联安装位、串联安装位均用于接入连接元件；多条第二信号线长度各不相同，多个选通安装位用于在接入一连接元件时选择测试信号通过的第二信号线。本发明实现模拟实际项目中的芯片信号传输的线路路径，并验证其信号性能，降低芯片选型失误率，缩短研发设计周期，降低研发成本。 |
