一种二维材料温度检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202111187268.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114001838A | 公开（公告）日 | 2022-02-01 |
| 申请公布号 | CN114001838A | 申请公布日 | 2022-02-01 |
| 分类号 | G01K7/01（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吉鹏勃;刘翡琼 | 申请（专利权）人 | 西安柯莱特信息科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 710119陕西省西安市高新区高新6路立人科技园1幢1单元10401-276室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及温度检测技术领域，具体提供了一种二维材料温度检测装置，包括从下到上依次设置的底电极层、半导体层、二维材料层以及敏感层；敏感层为由周期性排布的敏感单元组成；敏感单元包括第一金属条、第二金属条、敏感材料块；敏感材料块设置在第一金属条和第二金属条之间；二维材料层与底电极层通过外电路连接。当温度改变时，敏感材料块发生形变，导致穿过二维材料层与半导体层界面处的肖特基势垒、到达半导体层的热电子数量不同，通过测量外电路中电流的强度实现温度探测。由于金属的之间的距离对光的吸收影响严重，所以该探测器探测准确度和灵敏度极高。 |
