光电元件测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202120056834.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215218878U | 公开（公告）日 | 2021-12-17 |
| 申请公布号 | CN215218878U | 申请公布日 | 2021-12-17 |
| 分类号 | G01R1/04（2006.01）I;G01R1/30（2006.01）I;F16F15/02（2006.01）I;F16F15/067（2006.01）I;H05K7/20（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 彭水良 | 申请（专利权）人 | 华精机（苏州）机械科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 215000江苏省苏州市吴江区同里镇同兴村 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及光电元件测试技术领域，尤其涉及光电元件测试系统，解决现有技术中存在的缺点，包括机壳和减震组件，所述机壳上设置有控制面板，机壳为空腔结构，所述减震组件包括安装板，安装板的顶部通过粘合剂粘接有减震垫，且安装板上通过螺钉固定有对称布置的安装柱，所述安装柱的底部焊接有支脚板，安装柱的外部套设有减震弹簧，减震弹簧的两端分别通过卡扣与安装板和支脚板固定连接；所述安装柱靠近端部的两侧均滑动设置有卡块，通过减震组件的设置，在设备的底部增设减震组件，可以对减小外部震动力对设备造成的影响，避免光电元件与测试板之间松动，确保测试工作的稳定进行。 |
