芯片检测设备
基本信息
| 申请号 | CN202110689559.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113399304A | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN113399304A | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | B07C5/342（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 王康;朱铁丁 | 申请（专利权）人 | 上海金东唐科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 张伟 |
| 地址 | 200082上海市杨浦区长阳路2588号电力研究中心大楼602、603A室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测技术领域，本发明提供的芯片检测设备，包括：上下料缓存机构、料盘转移机构、识别抓取机构和机架；上下料缓存机构、料盘转移机构和识别抓取机构分别安装于机架上；上下料缓存机构位于识别抓取机构的抓取区域内，且上下料缓存机构具有上料区和分料区；料盘转移机构用于将料盘自上下料缓存机构的上料区移动至分料区。本发明提供的芯片检测设备，可以替代人工实现高效取料，相较于人工操作速度更快，提高了芯片检测效率。 |
