一种SMD二极管电性能测试座
基本信息
| 申请号 | CN202022594816.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214150794U | 公开（公告）日 | 2021-09-07 |
| 申请公布号 | CN214150794U | 申请公布日 | 2021-09-07 |
| 分类号 | G01R1/04（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 汪良恩;杨华;田长亮 | 申请（专利权）人 | 安徽安美半导体有限公司 |
| 代理机构 | 上海华诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈国俊 |
| 地址 | 247100安徽省池州市经济技术开发区富安电子信息产业园10号厂房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种SMD二极管电性能测试座，涉及半导体封装制造领域，包括底座，底座设置第一安装块和第二安装块，第二安装块设置缺口，缺口内前后对称间隔设置两个铜块，两个铜块的相对面均为台阶面，台阶面包括台阶面左段和台阶面中段，两个铜块的台阶面左段的间距与SMA二极管的长度匹配，台阶面中段的间距与SMB二极管的长度匹配，第二安装块内设置两个导电连接管，两个导电连接管的左端分别与两个铜块连接、右端设置在第二安装块外部，导电连接管的右端设置插槽，第一安装块设置按压装置。本实用新型能够解决对不同类型的SMD二极管进行电性能测试需要反复更换电性能测试座导致测试效率较低和易测试失败的问题。 |
