一种QFN芯片高温测试自动出入料机构
基本信息
| 申请号 | CN202021879740.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212322953U | 公开（公告）日 | 2021-01-08 |
| 申请公布号 | CN212322953U | 申请公布日 | 2021-01-08 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 艾兵 | 申请（专利权）人 | 上海赢朔电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海兆丰知识产权代理事务所（有限合伙） | 代理人 | 上海赢朔电子科技股份有限公司 |
| 地址 | 201700上海市青浦区青浦工业园区久远路389号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种QFN芯片高温测试自动出入料机构，包括底座以及设置在底座上的入口加热轨道、入口材料转移机构、定位机构、芯片搬运机构、高温测试机构、不良品排出机构和出料轨道，芯片搬运机构包括单轴驱动器、单轴驱动器马达、纵向滑轨、下压马达固定板、两个搬运支架和四个下压马达；出料轨道和入口加热轨道分设在纵向滑轨的左右侧；入口材料转移机构设置在入口加热轨道的末端；定位机构与所述入口材料转移机构相邻设置；不良品排出机构和高温测试机构一一对应地设置在纵向滑轨的前后端。本实用新型的QFN芯片高温测试自动出入料机构，可以完成QFN芯片的高温测试，操作简便，减少操作工序，提高了生产效率。 |
