厚膜混合集成电路测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201620157629.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205404750U | 公开（公告）日 | 2016-07-27 |
| 申请公布号 | CN205404750U | 申请公布日 | 2016-07-27 |
| 分类号 | G01R31/3167(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘国庆 | 申请（专利权）人 | 威科电子模块（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 长沙市和协专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 威科电子模块（深圳）有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区蛇口沿山路28号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种厚膜混合集成电路测试系统，监控装置包括电脑主机、显示器、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟通用接口插槽、数字通用接口插槽、模拟测试选件模组、数字测试选件模组、器件接口板以及被测设备接口；检测装置包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表，所述夹具包括基座、上载板及下载板，所述基座上设有支架，所述支架上设有用以控制所述上载板上下运动的控制机构。其优点是结构简单、使用方便、可靠。不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，操作简单，测试过程简单，效率较高。 |
