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厚膜混合集成电路测试仪

基本信息

申请号 CN201620158697.X 申请日 -
公开（公告）号 CN205450198U 公开（公告）日 2016-08-10
申请公布号 CN205450198U 申请公布日 2016-08-10
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 刘国庆 申请（专利权）人 威科电子模块（深圳）有限公司
代理机构 长沙市和协专利代理事务所（普通合伙） 代理人 威科电子模块（深圳）有限公司
地址 518000 广东省深圳市南山区蛇口沿山路28号
法律状态 -

摘要

摘要 一种厚膜混合集成电路测试仪，包括监控装置和检测装置，所述监控装置包括主机及与主机连接的显示器，监控模组包括单片机控制模块以及与单片机控制模块连接的高精度频率测量模块、加压测流模块、数据采集电路模块、键盘键入模块、显示模块和电源模块；所述检测装置包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表，检测仪表通过信号线与所述主机信号连接。其优点是结构简单、使用方便、可靠。不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，操作简单，测试过程简单，效率较高。