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电容缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

基本信息

申请号 CN202011544534.2 申请日 -
公开（公告）号 CN112598646A 公开（公告）日 2021-04-02
申请公布号 CN112598646A 申请公布日 2021-04-02
分类号 G06T7/00(2017.01)I 分类 计算；推算；计数;
发明人 朱焱;姜浩;王少军;蔡权雄;牛昕宇 申请（专利权）人 山东产研鲲云人工智能研究院有限公司
代理机构 深圳市华优知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 余薇
地址 250000山东省济南市历城区港兴三路未来创业广场3号楼1401
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公布了提供一种电容缺陷检测方法，包括：获取待检测图像，所述待检测图像包括待检测电容；将所述待检测图像进行随机切块，得到若干个图像块；将所述待检测图像与所述图像块输入预先训练好的电容缺陷检测模型中进行缺陷进行特征提取和特征解码，得到电容缺陷检测结果，所述预先训练好的电容缺陷检测模型包括用于对所述待检测图像进行第一特征提取操作的第一网络、用于对所述图像块进行第二特征提取操作的第二网络以及用于特征解码的解码网络。通过第一特征提取操作对待检测图像进行全局特征提取，和通过第二特征提取操作对图像块进行局部特征提取，可以从局部特征挖掘出电容缺陷的信息表征，从而提高了电容缺陷的检测准确度。