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单板复位测试的监控方法

基本信息

申请号	CN201910762638.1	申请日	-
公开（公告）号	CN110515815A	公开（公告）日	2019-11-29
申请公布号	CN110515815A	申请公布日	2019-11-29
分类号	G06F11/34;G06F11/22	分类	计算；推算；计数;
发明人	黄秋霞	申请（专利权）人	成都华镭科技有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	610000 四川省成都市双流区东升街道成都芯谷产业园集中区
法律状态	-

摘要

本发明提供一种单板复位测试的监控方法，包括如下步骤：S1：首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验直至所述标志位写入成功；S2：判断每发生一次复位测试，都对当前复位类型标志位计数加一；S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数；S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。该方法不仅可以快速定位当前类型复位测试是否成功，可以判断本轮测试是否产生了异常复位，以便及时、准确地判断单板是否符合设计需求，使测试更加有效。