一种自动评价Demura效果的方法和装置
基本信息
| 申请号 | CN202210168590.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114417246A | 公开（公告）日 | 2022-04-29 |
| 申请公布号 | CN114417246A | 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 分类号 | G06F17/15（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 秦良;张娇;吴樟福 | 申请（专利权）人 | 昇显微电子（苏州）有限公司 |
| 代理机构 | 苏州久元知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 袁欣琪 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市高新区竹园路209号4号楼1905室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种自动评价Demura效果的方法和装置，可以准确的获取不同灰阶下显示屏经过Demura处理后每个像素的亮度信息，并依据此亮度信息精确的发现亮度不均匀点所在位置以及亮度不均匀点分布的密集度，从而实现自动客观的评价Demura的效果，使得Demura效果的等级划分具有数据依据，更加规范，其主要包含以下几个部分：获得去噪后的亮度数据、计算平均亮度和亮度差异系数、识别亮度不均匀点、计算亮度不均匀点的数量以及分布的疏密程度、进行该灰阶Demura等级判定、进行整体Demura等级判定。 |
