LDMOS开关器件及其制作方法
基本信息
申请号 | CN202111679957.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114334660A | 公开(公告)日 | 2022-04-12 |
申请公布号 | CN114334660A | 申请公布日 | 2022-04-12 |
分类号 | H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 李荣伟 | 申请(专利权)人 | 苏州龙驰半导体科技有限公司 |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 王晓玲 |
地址 | 215009 江苏省苏州市高新区火炬路52号46幢131室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请提供了LDMOS开关器件及其制作方法。该制作方法,包括以下步骤:在半绝缘SiC基底的第一表面形成栅氧化层和栅极,栅极位于栅氧化层远离第一表面的一侧;在半绝缘SiC基底中形成漂移区,并在栅极两侧的半绝缘SiC基底中形成源/漏区,以使源/漏区中的漏区位于漂移区中。本申请的上述方法在半绝缘SiC半绝缘衬底上直接制作RF LDMOS开关器件,可以通过SiC氧化和离子注入实现沟道增强型RF LDMOSFET的工艺设计,该工艺充分发挥了SiC的高热导率属性,SiC高的键能使器件有更高的工作电压,能够在高温高压环境中仍然实现高输出功率和效率。 |
