IC试验装置
基本信息
| 申请号 | CN202021891013.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213091815U | 公开（公告）日 | 2021-04-30 |
| 申请公布号 | CN213091815U | 申请公布日 | 2021-04-30 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 向菊 | 申请（专利权）人 | 深圳市羿烽科技有限公司 |
| 代理机构 | 重庆百润洪知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郝艳平 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道桃源社区前进二路134号锦联大厦A708 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及集成电子领域技术领域，具体涉及IC试验装置，包括：工作台、定位组件、传动带组件、压紧组件和探针组，其特征在于，所述探针组件固定安装在所述定位组件底部，所述传动带组件固定安装在所述定位组件两端且平铺于所述定位组件表面，所述压紧组件固定安装在所述探针组件底部，且所述压紧组件与所述传动带组件由同一动力驱动，所述定位组件吊设在所述工作台上。本实用新型的有益效果在于：能够批量且自动化试验测试集成电路芯片电气性能，无需人工操作，试验效率高，测试结果稳定可靠，提高质检效率。 |
