一种基于光刻工艺实现阵列图案的方法

基本信息

申请号 CN202010255053.3 申请日 -
公开(公告)号 CN111463106A 公开(公告)日 2020-07-28
申请公布号 CN111463106A 申请公布日 2020-07-28
分类号 H01L21/02(2006.01)I 分类 -
发明人 张凡;张妮伟;黄望林;向运来;李耀耀;芦鹏飞 申请(专利权)人 超晶科技(北京)有限公司
代理机构 北京万思博知识产权代理有限公司 代理人 超晶科技(北京)有限公司
地址 100083北京市海淀区王庄路1号B座八(七)层C1
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开了一种基于光刻工艺实现阵列图案的方法,涉及图案设计及图案制备领域。本申请根据所需制备图案特征,首先选择与新图案尺寸相匹配的光刻掩膜版;然后采用光刻工艺在垂直性好的光刻胶上进行初始图案化,在衬底上形成一层具有功能化阵列镂空图案的光刻胶;进一步选择非垂直镀膜的工艺方法,在上一步初始图案上进行目标材料一层或多层的沉积;最后选择去胶液或丙酮剥离得到目标设计的图案阵列。通过上述工艺,本申请能够减少光刻图案对掩膜版的依附性和降低光刻工艺成本,同时还可以实现复杂图案,且提高良率。本申请还可应用于光电半导体领域,解决相关技术中无法形成像素电极图案的问题,而且可应用于半导体器件中制造精细图案的工艺。