一种存储设备的IO性能的测试系统及方法
基本信息
申请号 | CN201510811413.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN105446862B | 公开(公告)日 | 2019-04-23 |
申请公布号 | CN105446862B | 申请公布日 | 2019-04-23 |
分类号 | G06F11/34(2006.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 李丽 | 申请(专利权)人 | 深圳市迪菲特科技股份有限公司 |
代理机构 | 深圳市六加知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市迪菲特科技股份有限公司;成都立扬信息技术有限公司 |
地址 | 518000 广东省深圳市南山区关口二路智恒产业园30栋5楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种存储设备的IO性能测试系统及方法。该测试系统包括存储设备、MDS服务器及多个客户端服务器,该存储设备与MDS服务器连接,客户端服务器通过以太网与MDS服务器进行数据交互;其中,存储设备用于作为MDS服务器的后端数据存储的设备,该客户端服务器用于向MDS服务器发送数据交互请求,该数据交互请求用于请求与存储设备进行数据交互,以进行IO性能测试,其中,MDS服务器用于处理数据交互请求,及统计在IO性能测试过程中的流量数据及带宽数据,以确定IO性能。通过同时由多个客户端服务器发起数据交互请求执行IO性能测试过程,能够有效的提高IO测试的效率,缩短IO测试的时间。 |
