一种并发模式同步测量系统及其使用方法
基本信息
申请号 | CN202011205248.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112230093A | 公开(公告)日 | 2021-01-15 |
申请公布号 | CN112230093A | 申请公布日 | 2021-01-15 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张帅;郭强;陈杰;彭以新 | 申请(专利权)人 | 上海星秒光电科技有限公司 |
代理机构 | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) | 代理人 | 上海星秒光电科技有限公司 |
地址 | 200000上海市闵行区园文路28号321室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本公开实施例中提供了一种并发模式同步测量系统及其使用方法,属于电学技术领域,具体包括:主设备和副设备均包括数据端和控制端,主设备和副设备之间通过数据端串联;分路组件用于将接收到的外界信号和指令传输至主设备和副设备;主设备的控制端和副设备的控制端均与控制器电连接,且控制器通过分路组件与主设备的数据端和副设备的数据端均电连接,控制器用于发射启动指令或者停止指令。通过本公开的方案,采用多个设备并通过分路组件并发组网连接,能针对不同需要选取对应数量的通道并通过分路组件实现信号和指令同步,提高了并发模式同步测量系统的利用率和处理效率,且降低了使用成本。 |
