芯片的Trim测试方法和自动测试设备
基本信息
| 申请号 | CN201911364550.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111142006A | 公开（公告）日 | 2020-05-12 |
| 申请公布号 | CN111142006A | 申请公布日 | 2020-05-12 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张灵灵 | 申请（专利权）人 | 上海岭芯微电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 上海岭芯微电子有限公司 |
| 地址 | 200233 上海市徐汇区宜山路810号贝岭大厦15楼C座 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种芯片的Trim测试方法，包括以下步骤：获得多个修调元件中每一修调元件的修调量；计算所述多个修调元件的各种组合下的各个组合修调量；获得所述芯片的预定节点的检测值和目标值；根据所述各个组合修调量与所述检测值计算各个修调结果；计算所述各个修调结果与所述目标值之差的绝对值；选择与所述目标值之差的绝对值最小的修调结果；以及根据所选择的修调结果确定所述多个修调元件的组合。 |
