一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置
基本信息
| 申请号 | CN201110452020.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN102564945B | 公开（公告）日 | 2013-10-16 |
| 申请公布号 | CN102564945B | 申请公布日 | 2013-10-16 |
| 分类号 | G01N19/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张向军;李红;颜浩;覃珊;李晨光;卢丽敏 | 申请（专利权）人 | 联通兴业通信技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 联通兴业通信技术有限公司;清华大学;联通华盛通信有限公司 |
| 地址 | 100038 北京市海淀区羊坊店路9号京门大厦3段11层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置，属于电信卡密码覆膜去除技术领域，该方法包括以下步骤：设置实验参数；测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的一组实验数据；并更换同一类别新电信卡，得到在相同参数的三组实验数据；改变划擦载荷值，得到多组实验数据；依次更换另一种待测电信卡，得到每种待测电信卡的多组实验数据；制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，对比各测试载荷下待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同具有较好密码覆膜性能的电信卡。本发明可用于确立电信卡密码覆膜层的测试标准，并判断电信卡供应厂家生产的电信卡密码覆膜是否合格。 |
